Perspectivas de la microscopia electrónoca en el estudio de nanomateriales
Contenido principal del artículo
Resumen
Edición especial de la sección en colaboració con la Asociación Mexicana de Microscopía A.C., (AMM).
Descargas
Detalles del artículo
Esta obra está bajo una licencia internacional Creative Commons Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0.
+Ciencia por Universidad Anáhuac México se distribuye bajo licencia internacional Licencia Creative Commons Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 Internacional.
Citas
Hernández-Cristóbal, O., Arenas-Alatorre, J., Díaz,
G., Bahena, D., & J. Yacamán, M. (2015). High resolution HAADF characterization of Ir/TiO2catalyst reduced at 500 °c: Intensity profile analysis. Journal of Physical Chemistry C, 119(21), 11672-11678. https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.5b01923
Crewe, A. V. (1971). High Intensity Electron Sources
and Scanning electron Microscopy. Electron Microscopy in Material Science, 162-207. Academic Press, New York.
Pennycook, S.J., Varela, M., Hetherington, C.J.D. et
al. (2006). Materials Advances through Aberration-Corrected Electron Microscopy. MRS Bulletin, 31, 36–43.