La microscopia electrónica de barrido en la caracterización de materiales

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Publicado: 2022-10-17

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Dr.
Universidad Nacional Autónoma de México, Centro de Física Aplicada y Tecnología Avanzada

Resumen

Edición especial de la sección en colaboració con la Asociación Mexicana de Microscopía A.C., (AMM).

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Número

Núm. 30 (2022)

Sección

¡Ciencia en las Fronteras!
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+Ciencia por Universidad Anáhuac México se distribuye bajo licencia internacional Licencia Creative Commons Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 Internacional. 

 

 

Cómo citar

La microscopia electrónica de barrido en la caracterización de materiales. (2022). +Ciencia, 30, 48-51. https://revistas.anahuac.mx/index.php/masciencia/article/view/1492

Referencias

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